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切片分析

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切片分析,又名切片观察或金相切片、显微切片,是一种通过切片后在显微镜或电镜下进行直观的观察样品截面和内部的结构,缺陷等形貌, 并可直接进行各种尺寸测量,涂/镀层厚度测量。切片分析所能应用的产品及行业相当广泛,在PCB/PCBA、金属产品、高分子产品等制造行业中是最常见的也是重要的分析方法之一,通常被用作品质判定和品质异常分析、检验电路板品质的好坏、检验PCBA焊接质量、检验产品表面涂/镀层厚度、寻找失效的原因与解决方案、评估制程改进,做为客观检查、研究与判断的根据。

测试应用

金属/非金属材料切片分析
观察金属/非金属材料或制品内部结构及缺陷分析、电镀层工艺分析、切片后的样品可以用于观察形貌与分析成份,通过切片的方法来观察内部及表面结构情况、验证样品所发现的疑似异常情况。
电子元器件切片分析
借助切片分析技术和高倍率显微镜确认电子元器件的失效现象,分析工艺、原材料缺陷。通过显微剖切技术制得的微切片可用于电子元器件结构剖析、检查电子元器件表面及内部缺陷检查。
印制线路板/组装板切片分析
  • 通过切片进行品质判定和对不良的原因作出初步分析及测试印制板的多项性能。
  • 例如:树脂沾污,层裂缝,孔壁分层,焊料涂层情况,层间厚度,镀层厚度,孔内镀层厚度,侧蚀,内层环宽,层间重合度,镀层质量,孔壁粗糙度等。
  • 通过印制电路板显微剖切技术制得的微切片可用于检查PCB内部导线厚度、层数、通孔孔径大小、通孔质量观察,用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等。

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切片分析仪器设备参数

金相显微镜
  • 型号:3D光学数码显微镜(DSX500)
  • 放大倍率:75X ~ 3000X
  • 测量最小范围:>2μm
  • 可测样品最大高度:50mm
  • 测试要求:需确认样品测试目的以及具体测试位置
  • 金相显微镜分析.jpg
扫描电子显微镜
  • 型号:扫描电子显微镜(SEM/EDS)
  • 底片放大倍率:20X ~ 8000000X
  • 加速电压:0.1~30kV
  • 测量最小范围:>0.1um
  • 可测样品最高度:1.5 ~ 30mm
  • 测试要求:需确认样品测试目的以及具体测试位置
  • 扫描电子显微镜分析.jpg

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测试标准(部分)

扫描电子显微镜分析标准

GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则

GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

JB/T 7503-1994 金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法

ASTM B748-90(2016) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

光学显微镜分析标准

GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量显微镜法

ISO 1463-2021 金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法

ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法

ASTM B487-85(2007) 通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法

QB/T 3817-1999 轻工产品金属镀层和化学处理层的厚度测试方法金相显微镜法

GB/T 13452.2-2008 (方法6A-截面法) 色漆和清漆 漆膜厚度的测定

IPC-TM-650 2.1.1 适用于PCB/PCBA

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